Difracción de rayos X: Introducción al análisis de estructuras cristalinas

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Características

Modalidad

En línea

Duración

18 horas totales (15 horas en 5 sesiones y 3 horas extracurriculares)

Fechas

31 de enero, 7, 8, 14 y 15 de febrero de 2026

Horario

1:00 PM a 4:00 PM Hora de la Ciudad de México

Diploma

Constancia con valor curricular por las horas impartidas.

Plataforma

Google Meet y Google Classroom

Sobre el curso

El objetivo del curso es:

Proporcionar a los participantes los fundamentos y las herramientas necesarias para aplicar la difractometría de rayos X en el análisis de materiales policristalinos, fortaleciendo sus capacidades para interpretar difractogramas, identificar fases cristalinas y evaluar propiedades estructurales, mediante el uso de software especializado y el desarrollo de competencias técnicas orientadas a la investigación, la innovación y el control de calidad en materiales.

Dirigido a profesionales de las áreas de química, física e ingeniería, relacionados con el estudio de materiales cristalinos (cerámicos, cementos, minerales, metálicos, aleaciones, entre otros) y público en general con los conocimientos mínimos requeridos.

Características

Que aprenderás

Curso enfocado en los fundamentos, instrumentación y aplicaciones de la difracción de rayos X para el análisis estructural de materiales cristalinos. Los participantes aprenderán los principios físicos de la difracción, la interpretación de difractogramas y el uso de software especializado como PANalytical® X’Pert HighScore Plus, aplicando la técnica a la identificación de fases, caracterización semicuantitativa y evaluación de la calidad cristalina en materiales industriales y de investigación.

Módulos del curso

Ponente

M. en C. Jonathan Saviñón de los Santos

1. Repaso de estructuras cristalinas.
2. Fenomenología de la difracción.
3. Instrumentación para difractometría y uso de la técnica.
4. Interpretación del difractograma de policristal.
5. Aplicaciones al análisis de muestras con software.